Modeling the process dependence of electrical charges associated with the silicon/silicon-dioxide interface /
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | |
---|---|
Ձևաչափ: | Թեզիս Գիրք |
Լեզու: | English |
Հրապարակվել է: |
Ann Arbor, MI :
University Microfilms International,
c1987.
|
Խորագրեր: |
Ֆիզիկական նկարագրություն: | xxii, 157 p. : ill. ; 22 cm. |
---|---|
Մատենագիտություն: | Bibliography: p. 135-157. |