Modeling the process dependence of electrical charges associated with the silicon/silicon-dioxide interface /
שמור ב:
מחבר ראשי: | |
---|---|
פורמט: | Thesis ספר |
שפה: | English |
יצא לאור: |
Ann Arbor, MI :
University Microfilms International,
c1987.
|
נושאים: |
תיאור פיזי: | xxii, 157 p. : ill. ; 22 cm. |
---|---|
ביבליוגרפיה: | Bibliography: p. 135-157. |