Modeling the process dependence of electrical charges associated with the silicon/silicon-dioxide interface /
Guardat en:
Autor principal: | |
---|---|
Format: | Thesis Llibre |
Idioma: | English |
Publicat: |
Ann Arbor, MI :
University Microfilms International,
c1987.
|
Matèries: |
Descripció física: | xxii, 157 p. : ill. ; 22 cm. |
---|---|
Bibliografia: | Bibliography: p. 135-157. |