Evolution of silicon materials characterization : lessons learned for improved manufacturing /

Evolution of silicon materials characterization : lessons learned for improved manufacturing /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Bullis, W. Murray, 1930-
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: National Institute of Standards and Technology (U.S.). Semiconductor Electronics Division
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1993.
Σειρά:Semiconductor measurement technology
NIST special publication ; 400-92
Θέματα:
Semiconductor wafers > Standards.
Electronics > Materials > Testing.
Silicon.

CARM 1 Store

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από CARM 1 Store
Ταξιθετικός Αριθμός: A1:AP37D0 F02178
Αντίγραφο 1 Στη βιβλιοθήκη  Κάντε κράτηση

Παρόμοια τεκμήρια