VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Awdur Corfforaethol: Institution of Electrical Engineers
Fformat: Llyfr
Iaith:English
Cyhoeddwyd: London : Institution of Electrical Engineers, c1998.
Cyfres:IEE circuits, devices and systems series ; v. 9
Pynciau:

CARM 1 Store

Manylion daliadau o CARM 1 Store
Rhif Galw: A2:AQ22G0 C08462
Copi 1 Ar gael  Gwneud Cais