VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
London :
Institution of Electrical Engineers,
c1998.
|
Σειρά: | IEE circuits, devices and systems series ;
v. 9 |
Θέματα: |
CARM 1 Store
Ταξιθετικός Αριθμός: |
A2:AQ22G0 C08462 |
---|---|
Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη Κάντε κράτηση |