Scanning probe microscopies : 20-22 January 1992, Los Angeles, California /
Պահպանված է:
| Համատեղ հեղինակ: | |
|---|---|
| Այլ հեղինակներ: | |
| Ձևաչափ: | Գիրք |
| Լեզու: | English |
| Հրապարակվել է: |
Bellingham, Wash. :
SPIE--the Society of Photo-optical Instrumentation Engineers,
c1992.
|
| Շարք: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 1639. |
| Խորագրեր: |
CARM 1 Store
| Պատճեն 1 | Հասանելի է Տեղադրեք պահում |
|---|