Scanning probe microscopies : 20-22 January 1992, Los Angeles, California /
Salvato in:
| Ente Autore: | |
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| Altri autori: | |
| Natura: | Libro |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
Bellingham, Wash. :
SPIE--the Society of Photo-optical Instrumentation Engineers,
c1992.
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| Serie: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 1639. |
| Soggetti: |
CARM 1 Store
| Copia 1 | Disponibile Richiedi |
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