Scanning probe microscopies : 20-22 January 1992, Los Angeles, California /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Bellingham, Wash. :
SPIE--the Society of Photo-optical Instrumentation Engineers,
c1992.
|
| Σειρά: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 1639. |
| Θέματα: |
CARM 1 Store
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη Κάντε κράτηση |
|---|