Siirry sisältöön
CAVAL Home
  • Start Over
  • Oma tili
  • Kirjaudu ulos
  • Kirjaudu sisään
  • Kieli
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Tarkennettu
  • Hot-carrier reliability of MOS...
  • Sitaatti
  • Tekstiviesti
  • Lähetä sähköpostilla
  • Tulosta
  • Vie tietue
    • Vienti: RefWorks
    • Vienti: EndNoteWeb
    • Vienti: EndNote
  • Lisää suosikkeihin
  • Pysyvä linkki
Hot-carrier reliability of MOS VLSI circuits /

Hot-carrier reliability of MOS VLSI circuits /

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Leblebici, Yusuf
Muut tekijät: Kang, Sung-Mo, 1945-
Aineistotyyppi: Kirja
Kieli:English
Julkaistu: Boston : Kluwer Academic, c1993.
Sarja:Kluwer international series in engineering and computer science. VLSI, computer architecture, and digital signal processing
Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 227.
Aiheet:
Integrated circuits > Very large scale integration > Defects > Mathematical models.
Metal oxide semiconductors > Reliability > Mathematical models.
Hot carriers > Reliability > Mathematical models.
Linkit:Publisher description
Table of contents only
  • Saatavuustiedot
  • Kuvaus
  • Sisällysluettelo
  • Henkilökuntanäyttö

Internet

Publisher description
Table of contents only

CARM 1 Store

Saatavuus: CARM 1 Store
Nide 1 Saatavissa  Tee varaus

Samankaltaisia teoksia

  • The bounding approach to VLSI circuit simulation /
    Tekijä: Zukowski, Charles A.
    Julkaistu: (1986)
  • Switch-level timing simulation of MOS VLSI circuits /
    Julkaistu: (1989)
  • The design and analysis of VLSI circuits /
    Tekijä: Glasser, Lance A.
    Julkaistu: (1985)
  • High speed VLSI interconnections : modeling, analysis, and simulation /
    Tekijä: Goel, Ashok K., 1953-
    Julkaistu: (1994)
  • Design of MOS VLSI circuits for telecommunications /
    Julkaistu: (1985)
  • Home
  • About Us
    • Contact Us
    • News
    • Governance
    • Photo Gallery
  • Solutions
    • FOLIO + ReShare
    • Storage and Archives
    • Shelf-Ready Services
    • Cataloguing and Metadata
    • Language Resources
    • Digital Platforms
  • Member Services
    • Member Benefits
    • Our Members
    • Shared Collection
    • Reciprocal Borrowing
    • Mentoring Program
    • CAVAL card

Contact Us

4 Park Drive

Bundoora, Victoria, 3083

Australia

T +61 3 9450 5500

Email: caval@caval.edu.au

Twitter Facebook LinkedIn

  • Privacy and Disclaimer
  • Site Map