Electron microscopy, 1980 : proceedings of the Seventh European Congress on Electron Microscopy, The Hague, The Netherlands, August 24-29, 1980.

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Coauteurs: European Congress on Electron Microscopy Hague, Netherlands, International Conference on X-ray Optics and Microanalysis
Andere auteurs: Brederoo, P.
Formaat: Conferentie akten Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: Leiden : Seventh European Congress on Electron Microscopy Foundation, 1980.
Onderwerpen:
Omschrijving
Beschrijving item:Editors, P. Brederoo ... et al.
Incorporated the Ninth International Conference on X-ray Optics and Microanalysis.
Fysieke beschrijving:4 v. : ill ; 27 cm.
Bibliografie:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9090001468
9090001476
9090001484
9090001492