Evaluating a chip, wafer, or lot using SUXES, SPICE, and STAT2 /

Evaluating a chip, wafer, or lot using SUXES, SPICE, and STAT2 /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Marshall, J. C. (Janet C.)
Համատեղ հեղինակ: National Institute of Standards and Technology (U.S.)
Այլ հեղինակներ: Mattis, Richard L.
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1992.
Շարք:Semiconductor measurement technology
NIST special publication ; 400-90
Խորագրեր:
SPICE (Computer file)
Metal oxide semiconductors, Complementary > Computer simulation.

CARM 1 Store

Պահումների մանրամասները CARM 1 Store
Դասիչ: A3:AE31C0 F06472
Պատճեն 1 Հասանելի է  Տեղադրեք պահում

Նմանատիպ նյութեր