Evaluating a chip, wafer, or lot using SUXES, SPICE, and STAT2 /

সংরক্ষণ করুন:

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Marshall, J. C. (Janet C.)
সংস্থা লেখক:	National Institute of Standards and Technology (U.S.)
অন্যান্য লেখক:	Mattis, Richard L.
বিন্যাস:	গ্রন্থ
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1992.
মালা:	Semiconductor measurement technology NIST special publication ; 400-90
বিষয়গুলি:	SPICE (Computer file) Metal oxide semiconductors, Complementary > Computer simulation.

হোল্ডিংসের বিবরণ CARM 1 Store
ডাক সংখ্যা:	A3:AE31C0 F06472
প্রতিলিপি 1	লভ্য এই স্থানে হোল্ড করুন

অনুরূপ উপাদানগুলি