Evaluating a chip, wafer, or lot using SUXES, SPICE, and STAT2 /

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Marshall, J. C. (Janet C.)
مؤلف مشترك:	National Institute of Standards and Technology (U.S.)
مؤلفون آخرون:	Mattis, Richard L.
التنسيق:	كتاب
اللغة:	English
منشور في:	Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1992.
سلاسل:	Semiconductor measurement technology NIST special publication ; 400-90
الموضوعات:	SPICE (Computer file) Metal oxide semiconductors, Complementary > Computer simulation.

الوصف
وصف المادة:	"April 1992."
وصف مادي:	iv, 140 p. : ill. ; 28 cm.
بيبلوغرافيا:	Includes bibliographical references (p. 41-42)

مواد مشابهة