Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program, TXYZ20 /
保存先:
| 第一著者: | |
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| 団体著者: | |
| フォーマット: | 図書 |
| 言語: | English |
| 出版事項: |
Gaithersburg, MD : Washington, DC :
U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O.,
1992.
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| シリーズ: | Semiconductor measurement technology
NIST special publication ; 400-89 |
| 主題: |
CARM 1 Store
| 請求記号: |
A3:AE31C0 F06472 |
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| 所蔵 1 | 利用可 予約する |