Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program, TXYZ20 /

Guardat en:

Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Albers, John
Autor corporatiu:	National Institute of Standards and Technology (U.S.)
Format:	Llibre
Idioma:	English
Publicat:	Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1992.
Col·lecció:	Semiconductor measurement technology NIST special publication ; 400-89
Matèries:	Semiconductors > Thermal properties. Thermal analysis > Computer programs. Fourier analysis > Data processing.

Descripció
Descripció de l’ítem:	"June 1992."
Descripció física:	iii, 29 p. ; 28 cm.
Bibliografia:	Includes bibliographical references (p. 18)

Ítems similars