Database for and statistical analysis of the interlaboratory determination of the conversion coefficient for the measurement of the interstitial oxygen content of silicon by infrared absorption /

Database for and statistical analysis of the interlaboratory determination of the conversion coefficient for the measurement of the interstitial oxygen content of silicon by infrared absorption /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակ: National Institute of Standards and Technology (U.S.)
Այլ հեղինակներ: Baghdadi, A., Scace, Robert I., Walters, E. Jane
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Gaithersburg, Md. : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1989.
Շարք:Semiconductor measurement technology
NIST special publication ; 400-82
Խորագրեր:
Silicon > Measurement > Databases.
Silicon > Measurement > Statistical methods.
Oxygen > Measurement > Databases.
Oxygen > Measurement > Statistical methods.
Infrared spectroscopy > Databases.
Infrared spectroscopy > Statistical methods.

CARM 1 Store

Պահումների մանրամասները CARM 1 Store
Դասիչ: A3:AE31C0 F06472
Պատճեն 1 Հասանելի է  Տեղադրեք պահում

Նմանատիպ նյութեր