Database for and statistical analysis of the interlaboratory determination of the conversion coefficient for the measurement of the interstitial oxygen content of silicon by infrared absorption /

সংরক্ষণ করুন:

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
সংস্থা লেখক:	National Institute of Standards and Technology (U.S.)
অন্যান্য লেখক:	Baghdadi, A., Scace, Robert I., Walters, E. Jane
বিন্যাস:	গ্রন্থ
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	Gaithersburg, Md. : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1989.
মালা:	Semiconductor measurement technology NIST special publication ; 400-82
বিষয়গুলি:	Silicon > Measurement > Databases. Silicon > Measurement > Statistical methods. Oxygen > Measurement > Databases. Oxygen > Measurement > Statistical methods. Infrared spectroscopy > Databases. Infrared spectroscopy > Statistical methods.

হোল্ডিংসের বিবরণ CARM 1 Store
ডাক সংখ্যা:	A3:AE31C0 F06472
প্রতিলিপি 1	লভ্য এই স্থানে হোল্ড করুন

অনুরূপ উপাদানগুলি