Database for and statistical analysis of the interlaboratory determination of the conversion coefficient for the measurement of the interstitial oxygen content of silicon by infrared absorption /

Պահպանված է:

Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակ:	National Institute of Standards and Technology (U.S.)
Այլ հեղինակներ:	Baghdadi, A., Scace, Robert I., Walters, E. Jane
Ձևաչափ:	Գիրք
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	Gaithersburg, Md. : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1989.
Շարք:	Semiconductor measurement technology NIST special publication ; 400-82
Խորագրեր:	Silicon > Measurement > Databases. Silicon > Measurement > Statistical methods. Oxygen > Measurement > Databases. Oxygen > Measurement > Statistical methods. Infrared spectroscopy > Databases. Infrared spectroscopy > Statistical methods.

Նկարագրություն
Նյութի նկարագրություն:	"July 1989."
Ֆիզիկական նկարագրություն:	x, 168 p. : ill. ; 28 cm.
Մատենագիտություն:	Includes bibliographical references.

Նմանատիպ նյութեր