Test structure implementation document : DC parametric test structures and test methods for monolithic microwave integrated circuits (MMICs) /

Պահպանված է:

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:	Schuster, C. E.
Համատեղ հեղինակներ:	United States. Defense Advanced Research Projects Agency, U.S. Air Force Wright Laboratory
Ձևաչափ:	Գիրք
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1995.
Շարք:	Semiconductor measurement technology NIST special publication.
Խորագրեր:	Microwave integrated circuits > Design > Data processing. Gallium arsenide semiconductors > Design > Data processing. Computer-aided design.

Նկարագրություն
Նյութի նկարագրություն:	"September 1995."
Ֆիզիկական նկարագրություն:	iv, 88 p. : ill. ; 28 cm.
Մատենագիտություն:	Includes bibliographical references (p. 14)

Նմանատիպ նյութեր