The measurement of minority carrier diffusion lengths for high purity GaAs using an electron beam induced current technique /

The measurement of minority carrier diffusion lengths for high purity GaAs using an electron beam induced current technique /

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Dettagli Bibliografici
Altri autori: Butcher, K. S. A.
Natura: Libro
Lingua:English
Pubblicazione: Lucas Heights, N.S.W. : ANSTO, 1990.
Serie:ANSTO/E ; 693
Soggetti:
Electron beams.
Diffusion.
Arsenides.
Descrizione
Descrizione del documento:"July 1990".
Descrizione fisica:13 p. : ill. ; 30 cm.
Also available via World Wide Web.
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Bibliografia:Includes bibliographical references.

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