Modeling the process dependence of electrical charges associated with the silicon/silicon-dioxide interface /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
Ann Arbor, MI :
University Microfilms International,
c1987.
|
الموضوعات: |
وصف مادي: | xxii, 157 p. : ill. ; 22 cm. |
---|---|
بيبلوغرافيا: | Bibliography: p. 135-157. |