Proceedings /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
Corporate Authors:	International Symposium for Testing and Failure Analysis, Microelectronics Symposium, Advanced Materials Symposium
פורמט:	Conference Proceeding
שפה:	English
יצא לאור:	Metals Park, Ohio : ASM International,.
נושאים:	Electronics > Materials > Testing > Congresses. Materials > Testing > Congresses. Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses. Semiconductors > Testing > Congresses.

פרטי מלאי ספרים מ CARM 1 Store
סימן המיקום:	A2:AH25H0 F01296
עותק 1	זמין ביצוע הזמנה

פריטים דומים