Proceedings /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συλλογικό Έργο: International Symposium for Testing and Failure Analysis, Microelectronics Symposium, Advanced Materials Symposium
Μορφή: Πρακτικό Συνεδρίου
Γλώσσα:English
Έκδοση: Metals Park, Ohio : ASM International,.
Θέματα:

CARM 1 Store

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από CARM 1 Store
Ταξιθετικός Αριθμός: A2:AH25H0 F01296
Αντίγραφο 1 Στη βιβλιοθήκη  Κάντε κράτηση