VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Соавтор: | |
| Формат: | |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
London :
Institution of Electrical Engineers,
c1998.
|
| Серии: | IEE circuits, devices and systems series ;
v. 9 |
| Предметы: |
CARM 1 Store
| Шифр: |
A2:AQ22G0 C08462 |
|---|---|
| Копировать 1 | Доступно Поместить задолженность |