VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחבר תאגידי: | |
| פורמט: | ספר |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
London :
Institution of Electrical Engineers,
c1998.
|
| סדרה: | IEE circuits, devices and systems series ;
v. 9 |
| נושאים: |
CARM 1 Store
| סימן המיקום: |
A2:AQ22G0 C08462 |
|---|---|
| עותק 1 | זמין ביצוע הזמנה |