Antireflecting-chromium linewidth standard, SRM 473, for calibration of optical microscope linewidth measuring systems /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Gaithersburg, MD : Washington, D.C. :
U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O,
[1997].
|
| Σειρά: | Standard reference materials
NIST special publication ; 260-129 |
| Θέματα: |
CARM 1 Store
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
A2:AB20H0 F01121 |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη Κάντε κράτηση |