Thermal resistance measurements /
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
Gaithersburg, MD : Washington, DC :
U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O.,
1990.
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| Colección: | Semiconductor measurement technology.
NIST special publication ; 400-86. |
| Materias: |
CARM 1 Store
| Número de Clasificación: |
A2:AM18B0 D08420 |
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| Copia 1 | Disponible Hacer reserva |