Ga door naar de inhoud
CAVAL Home
  • Start Over
  • Jouw account
  • Uitloggen
  • Aanmelden
  • Taal
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Geavanceerd
  • IEEE transactions on reliabili...
  • Citeren
  • SMS dit
  • Versturen
  • Afdrukken
  • Exporteer Record
    • Exporteer naar RefWorks
    • Exporteer naar EndNoteWeb
    • Exporteer naar EndNote
  • Toevoegen aan favorieten
  • Permalink
IEEE transactions on reliability.

IEEE transactions on reliability.

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Vorige titel:IRE transactions on reliability and quality control
Coauteurs: Institute of Electrical and Electronics Engineers (U.S.). Professional Technical Group on Reliability, IEEE Reliability Group, IEEE Reliabilty Society, American Society for Quality Control. Electronics Division
Formaat: Tijdschrift
Taal:English
Gepubliceerd in: New York, N.Y. : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1963-
Onderwerpen:
Electronic industries > Quality control > Periodicals.
Electronic apparatus and appliances > Reliability > Periodicals.
Online toegang:Click on "Journals & Magazines", then search: Reliability ...
http://ieeexplore.ieee.org/lpdocs/epic03/RecentIssues.htm?punumber=24
Click on "Go to IEL", then "Search", then "Journals"; scroll down to: Reliability ...
http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=24
  • Exemplaren
  • Omschrijving
  • Personeel

Internet

Click on "Journals & Magazines", then search: Reliability ...
http://ieeexplore.ieee.org/lpdocs/epic03/RecentIssues.htm?punumber=24
Click on "Go to IEL", then "Search", then "Journals"; scroll down to: Reliability ...
http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=24

CARM 1 Store

Exemplaargegevens van CARM 1 Store
Plaatsingsnummer: A1:AQ18C0 F03728
A3:AE18D0 D07203
A3:AF09C0 D07182
A3:AF09D0 D07124
Kopie 1 Beschikbaar  Plaats een reservatie
Kopie 2 Beschikbaar  Plaats een reservatie
Kopie 3 Beschikbaar  Plaats een reservatie
Kopie 4 Beschikbaar  Plaats een reservatie

Gelijkaardige items

  • IEEE transactions on device and materials reliability : a publication of the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society.
    Gepubliceerd in: (2001)
  • Australian electronics monthly.
    Gepubliceerd in: (1985)
  • Electronic design.
    Gepubliceerd in: (1953)
  • Electronic equipment reliability /
    door: Cluley, J. C. (John Charles)
    Gepubliceerd in: (1981)
  • Reliability engineering for electronic design /
    door: Fuqua, Norman B.
    Gepubliceerd in: (1987)
  • Home
  • About Us
    • Contact Us
    • News
    • Governance
    • Photo Gallery
  • Solutions
    • FOLIO + ReShare
    • Storage and Archives
    • Shelf-Ready Services
    • Cataloguing and Metadata
    • Language Resources
    • Digital Platforms
  • Member Services
    • Member Benefits
    • Our Members
    • Shared Collection
    • Reciprocal Borrowing
    • Mentoring Program
    • CAVAL card

Contact Us

4 Park Drive

Bundoora, Victoria, 3083

Australia

T +61 3 9450 5500

Email: caval@caval.edu.au

Twitter Facebook LinkedIn

  • Privacy and Disclaimer
  • Site Map