The three faces of test : design, characterization, production : International Test Conference, 1984 proceedings, October 16, 17, 18, 1984 /

The three faces of test : design, characterization, production : International Test Conference, 1984 proceedings, October 16, 17, 18, 1984 /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Coauteurs: International Test Conference Philadelphia, Pa., IEEE Computer Society. Test Technology Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers (U.S.). Philadelphia Section
Formaat: Conferentie akten Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: Silver Spring, MD : IEEE Computer Society Press, c1984.
Onderwerpen:
Integrated circuits > Testing > Congresses.
Semiconductors > Testing > Congresses.

CARM 1 Store

Exemplaargegevens van CARM 1 Store
Plaatsingsnummer: A3:AB07C2 D01817
Kopie 1 Beschikbaar  Plaats een reservatie

Gelijkaardige items