The three faces of test : design, characterization, production : International Test Conference, 1984 proceedings, October 16, 17, 18, 1984 /

The three faces of test : design, characterization, production : International Test Conference, 1984 proceedings, October 16, 17, 18, 1984 /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Nhiều tác giả của công ty: International Test Conference Philadelphia, Pa., IEEE Computer Society. Test Technology Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers (U.S.). Philadelphia Section
Định dạng: Hội nghị đang tiến hành Sách
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Silver Spring, MD : IEEE Computer Society Press, c1984.
Những chủ đề:
Integrated circuits > Testing > Congresses.
Semiconductors > Testing > Congresses.

CARM 1 Store

Chi tiết quỹ từ CARM 1 Store
Số hiệu: A3:AB07C2 D01817
Sao chép 1 Sẵn có  Đặt Giữ

Những quyển sách tương tự