Proceedings of the 13th International Conference on Defects in Semiconductors /

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Detalhes bibliográficos
Autores corporativos: International Conference on Defects in Semiconductors Coronado, Calif., Metallurgical Society of AIME. Electronic Materials Committee
Outros Autores: Kimerling, L. C., Parsey, J. M. (John Michael), 1953-
Formato: Anais de Congresso Livro
Idioma:English
Publicado em: Warrendale, Pa : The Metallurgical Society of AIME, 1985.
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