Hot-carrier reliability of MOS VLSI circuits /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Leblebici, Yusuf
Այլ հեղինակներ: Kang, Sung-Mo, 1945-
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Boston : Kluwer Academic, c1993.
Շարք:Kluwer international series in engineering and computer science. VLSI, computer architecture, and digital signal processing
Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 227.
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Publisher description
Table of contents only