Metrologia.
Guardado en:
Autor Corporativo: | |
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Formato: | Revista |
Lenguaje: | English French German |
Publicado: |
Berlin :
Springer-Verlag,
1965-.
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Materias: | |
Acceso en línea: | http://www.bipm.fr Also available online http://www.iop.org/journals/0026-1394 |
Internet
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