Interferometry VII--applications : 13-14 July 1995, San Diego, California /
Guardat en:
| Autor corporatiu: | , |
|---|---|
| Altres autors: | , , |
| Format: | Llibre |
| Idioma: | English |
| Publicat: |
Bellingham, Wash., USA :
SPIE,
c1995.
|
| Col·lecció: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 2545. |
| Matèries: |
| Descripció física: | x, 434 p. : ill. ; 28 cm. |
|---|---|
| Bibliografia: | Includes bibliographic references and index. |
| ISBN: | 0819419044 |