Interferometry--surface characterization and testing : 24 July 1992, San Diego, California /
সংরক্ষণ করুন:
| সংস্থা লেখক: | |
|---|---|
| অন্যান্য লেখক: | , |
| বিন্যাস: | গ্রন্থ |
| ভাষা: | English |
| প্রকাশিত: |
Bellingham, Wash. :
SPIE,
c1992.
|
| মালা: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 1776. |
| বিষয়গুলি: |
| দৈহিক বর্ননা: | vii, 183 p. : ill. ; 28 cm. |
|---|---|
| গ্রন্থ-পঞ্জী: | Includes bibliographical references and index. |
| আইসবিএন: | 0819409499 |