Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program, TXYZ20 /

Đã lưu trong:

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính:	Albers, John
Tác giả của công ty:	National Institute of Standards and Technology (U.S.)
Định dạng:	Sách
Ngôn ngữ:	English
Được phát hành:	Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1992.
Loạt:	Semiconductor measurement technology NIST special publication ; 400-89
Những chủ đề:	Semiconductors > Thermal properties. Thermal analysis > Computer programs. Fourier analysis > Data processing.

Miêu tả
Mô tả sách:	"June 1992."
Mô tả vật lý:	iii, 29 p. ; 28 cm.
Thư mục:	Includes bibliographical references (p. 18)

Những quyển sách tương tự