Test structure implementation document : DC parametric test structures and test methods for monolithic microwave integrated circuits (MMICs) /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συλλογικό Έργο: | , |
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Gaithersburg, MD : Washington, DC :
U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O.,
1995.
|
| Σειρά: | Semiconductor measurement technology
NIST special publication. |
| Θέματα: |
| Περιγραφή τεκμηρίου: | "September 1995." |
|---|---|
| Φυσική περιγραφή: | iv, 88 p. : ill. ; 28 cm. |
| Βιβλιογραφία: | Includes bibliographical references (p. 14) |