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Detalles Bibliográficos
Título anterior:International Test Conference. Digest of papers
Autores Corporativos: International Test Conference, IEEE Computer Society. Test Technology Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
Formato: Procedimiento de la Conferencia Revista
Lenguaje:English
Publicado: Silver Spring, Md. : IEEE Computer Society Press, 1983-.
Materias:

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Número de Clasificación: A3:AE22D0 F06353
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