Fundamentals of surface and thin film analysis /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Feldman, Leonard C.
Otros Autores: Mayer, James W., 1930-
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: New York : North-Holland, c1986.
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Número de Clasificación: A3:AR09B0 B10770
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