Evolution of silicon materials characterization : lessons learned for improved manufacturing /

Evolution of silicon materials characterization : lessons learned for improved manufacturing /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Bullis, W. Murray, 1930-
Korporacja: National Institute of Standards and Technology (U.S.). Semiconductor Electronics Division
Format: Książka
Język:English
Wydane: Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1993.
Seria:Semiconductor measurement technology
NIST special publication ; 400-92
Hasła przedmiotowe:
Semiconductor wafers > Standards.
Electronics > Materials > Testing.
Silicon.

CARM 1 Store

Szczegóły zapisu CARM 1 Store
Sygnatura: A1:AP37D0 F02178
Egzemplarz 1 Dostępne  Zamów

Podobne zapisy