The certification of 100 mm diameter silicon resistivity SRMs 2541 through 2547 using dual-configuration four-point probe measurements /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Gaithersburg, MD :
U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology,
1999.
|
| Έκδοση: | 1999 edition. |
| Σειρά: | Standard reference materials
NIST special publication ; 260-131 |
| Θέματα: |
| Περιγραφή τεκμηρίου: | "Issued June 1999." |
|---|---|
| Φυσική περιγραφή: | vi, 105 p. : ill. ; 28 cm. |
| Βιβλιογραφία: | Includes bibliographical references. |