Yield and variability optimization of integrated circuits /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Zhang, J. C., 1963-
Другие авторы: Styblinski, M. A., 1942-
Формат:
Язык:English
Опубликовано: Boston : Kluwer Academic Publishers, c1995.
Предметы:

CARM 1 Store

Подробно о фондах из CARM 1 Store
Шифр: A2:AN27G0 C08386
Копировать 1 Доступно  Поместить задолженность