Lifetime factors in silicon : a symposium /

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Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: American Society for Testing and Materials. Committee F-1 on Electronics
Outros autores: Westbrook, R. D.
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: Philadelphia, Pa. : The Society, c1980.
Series:ASTM special technical publication ; 712
Subjects:

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Número de Clasificación: A2:AO26A0 B06471
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