Integrated circuit technology: instrumentation and techniques, for measurement, process and failure analysis.

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书目详细资料
主要作者: Schwartz, Seymour
格式: 图书
语言:English
出版: New York, : McGraw-Hill, [1967].
主题:
实物特征
实物描述:xxii, 340 p. : illus. ; 26 cm.
参考书目:Includes bibliographies.