Field-ion microscopy. /
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Livre |
| Langue: | English |
| Publié: |
Amsterdam, :
North-Holland Pub. Co.,
1970.
|
| Collection: | Defects in crystalline solids ;
v. 2 |
| Sujets: |
| Description matérielle: | x, 257 p. with illus. ; 23 cm. |
|---|---|
| ISBN: | 072041752X |