Developments in integrated circuit testing /
Guardat en:
| Altres autors: | |
|---|---|
| Format: | Llibre |
| Idioma: | English |
| Publicat: |
London ; San Diego :
Academic Press,
c1987.
|
| Col·lecció: | Perspectives in computing (Boston, Mass.) ;
vol. 18. |
| Matèries: |
CARM 1 Store
| Signatura: |
A2:AL01E0 C03966 |
|---|---|
| Còpia 1 | Disponible Fer una reserva |