Developments in integrated circuit testing /
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| Altri autori: | |
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| Natura: | Libro |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
London ; San Diego :
Academic Press,
c1987.
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| Serie: | Perspectives in computing (Boston, Mass.) ;
vol. 18. |
| Soggetti: |
| Descrizione fisica: | x, 440 p. : ill. ; 24 cm. |
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| Bibliografia: | Includes bibliographical references (p. [407]-431). |
| ISBN: | 0124967353 |